山田電音株式会社 Yamada den-on Co.,Ltd

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LSI(半導体)テストシステム MDC Series



オープン・ショートテスタMDCシリーズ

オープンショート測定・リーク測定・電流ストレス測定・接触抵抗測定などを行う装置で、

〜1024pin(MDC1024)
〜2048pin(MDC2048)

の測定ピン(64ピン単位で増設)と高速DC測定源及びバイアス用電源を搭載しています。
高速テスト 0.5ms/pin
コネクタを出した状態でのテスト及びウエハテストの両方が可能です。

   


上記製品仕様は弊社標準仕様ですが、お客様のご要望でのカスタマイズもお請けしております。
詳細につきましては弊社営業まで、お気軽にお問い合わせください。