山田電音株式会社 Yamada den-on Co.,Ltd

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LSI(半導体)テストシステム FTOR Series(エフトール シリーズ)



LSIテストシステム  FTORシリーズ(エフトール シリーズ)



高速テスト、テスト時間短縮(テスタ台数削減)をご要望のお客様へ

FTOR5A
    250MHz(IN/OUTデータ500Mbps) Opsion (INデータ1Gbps)
    512・1024・2048pin
FTOR5
    250MHz(INデータ500Mbps)
    512・1024・2048pin
FTOR4A
    200MHz(IN/OUTデータ200Mbps)
    512・1024・2048pin
FTOR4
    100MHz(IN/OUTデータ100Mbps)

  
  512・1024・2048pin

1.業界のLSIテスタの主体が数十MHz帯に対し、8年前より250MHz帯のテスト
 スピードを達成。

2.テスト処理速度向上と同測数UPにより数倍以上の処理能力向上。

3.個別ポゴタワー対応により従来のデバイスボード・プローブボードも流用可能。

4.処理能力向上、設置スペース削減、自動機の削減により従来比5〜10倍の
 投資効率を達成。



上記製品仕様は弊社標準仕様ですが、お客様のご要望でのカスタマイズもお請けしております。
詳細につきましては弊社営業まで、お気軽にお問い合わせください。