山田電音株式会社 Yamada den-on Co.,Ltd

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LSI(半導体)テストシステム BOST Series


BOST(Build Out Self Test)とは

LSIテスタのパフォーマンスボード上に実装させてDUTの測定をサポートするテストの方法です。

500MHzハイスピードパターンジェネレータユニット
500MHzハイスピードパターンジェネレータユニット

既存テスタのパフォーマンスボード上に実装することで高速パターンを被測定デバイスに入力することが出来ます。



ジッタ測定ユニット
ジッタ測定ユニット

ジッタ測定ユニットは既存のテスタのパフォーマンスボード上に実装することでPLLやスペクトラム拡散などの発振特性を測定する事が出来ます。


上記製品仕様は弊社標準仕様ですが、お客様のご要望でカスタマイズもお請けしております。
詳細につきましては弊社営業まで、お気軽にお問い合わせください。