山田電音株式会社 Yamada den-on Co.,Ltd

半導体検査装置 24時間稼働の高信頼性機器を提供する企業
ROM書込みサービス
バーンイン装置
デバイス評価
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各種デバイスの評価・不良解析・選別の作業を承ります。

ご要望がございましたら、お気軽に相談下さい。


保有装置の一例

 テストシステム
   高速LSIテスタ&ウェハープローバー
 
  
   LCDドライバー用テスタ他各種保有いたしております。


  製品のPass/Failのみでなく各種解析ソフトウェアを準備しております。  
   
      

 バーンイン炉 -70℃〜180℃対応可能
                                
    

 各種測定器の一例
      
   40Gサンプリング  ノイズシュミレーター スペクトラムアナライザー
   オシロスコープ

             
           顕微鏡各種

 レーザーマーキングも保有しているため印字も可能です
  



評価実績

国内外の自動車用マイクロコンピュータの特性試験
      内蔵Flash・SRAMメモリ、 CPU、各種周辺とIO
      の動作マージンテスト及びリーク電流を含む寿命試験

 DRAM、SRAM
     フェイルビット解析、動作マージンテスト(FV SHMOO)

 Flash ROMの特性試験と選別
     E/W耐久試験、VTHトリミングデータ相関

 アナログICの特性試験と選別
     オペアンプのオフセット電圧測定

 ADDA
     オフセット電圧測定、ゲイン電圧測定と選別、INL,DNLなどの非直線性試験

 ディスクリートデバイス特性選別
     ゲートドレイン間リーク電流テスト
     ゲートソース間リーク電流テスト
     ドレインソース間リーク電流テスト
   
 IGBT 
    短絡試験、逆電圧復旧時間測定、L負荷テスト
      
 LCDドライバ 
    階調テスト

 その他 
    各種ES品評価、クロック同期系のデバイス入力クロックのチャタリング耐量測定


試験用ボードと試験プログラムの設計・製作も承ります。